IC引线框架视觉检测设备
检测设备包括光学成像,图像处理,深度学习和自动化技术结合一起,满足各类瑕疵,缺陷检测需求
设备参数设备型号SJH-CF100-1.0最小检测精度0.01*0.01mm 设备定位精度0.01mm定位方式CCD高精度对位相机配置可选品牌,最高支持6500万像素视野大小根据需求定制工作方式单面/双面检测控制方式PLC/工控机运动控制+伺服系统检测方式支持静态/动态检测画面彩色/黑白双面检测运转速度0.1-20m/min (速度可调节)电气参数AC220/800-1200w设备尺寸750*600*1800mm设备应用范围IC产品,冲压件,电镀产品,其他电子元件缺陷,瑕疵外观检测